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浅述干法激光粒度分析仪的测量过程

点击次数:139次  发布时间:2020-09-15
  干法激光粒度分析仪是近二十几年来快速发展起来的一种新型粒度分析仪,由于该仪器采用先进的计算机技术与激光原理相结合,充分发挥了各自的优势,使粉体的粒度分析变得快速方便,满足了粉体行业粒度分析的基本需要。再加上仪器生产厂家广泛的宣传(仪器分析快速、准确,精度高,分析精度0.001μm),因此该仪器得到快速发展和应用。
  激光散射测量是一种高分辨的光学检测手段,样品池检测窗是测量区域的主要组成部件,窗口的灰尘和污染物质会散射激光,杂质散射光会随分散样品的散射光一起被测量,从而影响测量的精度。通过观测测量背景就能判断系统的光学洁净程度是否达标。
 

  一个完整测量过程包括电子背景测量,光学背景测量和对光,加入样品,开始粒径测量,完成测量。进入测量过程后,软件界面的左下方会有对话框指示测量的进程。
  1、测量背景:颗粒区的测量数据,由于受到设备电子背景噪音,测试光路中镜面灰尘,以及分散介质中的杂质颗粒影响会有一定的偏差。通过“测量背景”能纯化粒径测量,上述的背景信息和数据会从样品测量数据中减去以得到的数据。
  2、加入样品:在背景测量结束后,出现加入样品提示。左方遮光度指示栏直观地表示测量样品的数量,遮光度会随着样品数量的增加而逐渐增高。在未加入样品前,右方的测量数据柱状图应该是随机变化,而且柱状数据条的高度一般不超过5。
  3、开始测量:当遮光度达到测量要求,停止添加样品后保持稳定(一般意味着样品颗粒没有发生溶解或凝聚,样品颗粒正常稳定分散),同时测量数据窗口显示稳定的,足够强度的柱状数据分布,可以按下“Start”键开始测量。
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