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聚焦新质生产力,欧美克粒度检测方案助力金刚石微粉迈向纳米时代

点击次数:68次  发布时间:2025-09-22
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近日,国家市场监管总局宣布检验检测促进产业优化升级行动首批已完成的8个重点项目全部通过验收。该项目重点突破了超硬材料(包括金刚石微粉)的关键检测技术,着力提升了超硬材料质量控制等方面的技术能力水平,实现了行业首创,突破了国外技术壁垒,对促进产业优化升级取得了积极成效。



与此同时,2025金刚石产业大会暨第七届中国(郑州)国际磨料磨具磨削展览会于9月20日在郑州开幕。大会以“汇聚产业链优势,拓展金刚石前景"为主题,汇聚了全球金刚石领域的专家与企业代表,探讨超硬材料在半导体、新能源、航空航天等前沿领域的创新应用。三天展会吸引了超过15,000位国内外专业观众到场参观。


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欧美克-金刚石微粉粒度解决方案

OMEC


作为磨料材料行业家喻户晓的粒度检测设备制造商,磨料行业一直是欧美克粒度分析仪器应用的传统优势行业。两年一届的行业盛会,欧美克仪器携多款深受行业客户青睐的拳头产品亮相展会现场,为行业客户带来激光粒度分析仪、纳米粒度电位分析仪、电阻法计数器、图像仪等相关配套产品矩阵。


激光粒度仪作为金刚石微粉行业迈向高端化的关键技术装备,通过提供精确、可靠的粒度分布数据,彻底改变了传统质量控制的局限。它不仅为企业提升产品一致性和良品率奠定了技术基础,更推动了行业标准的升级与产业链协同发展。随着半导体、精密制造等领域对材料性能要求的不断提高,激光粒度仪将成为实现纳米级精度控制、推动产业从规模扩张向质量提升转型的核心支撑,对行业竞争力提升具有战略意义。


欧美克Topsizer作为一款国产高性能干湿法激光粒度仪,具有量程宽、重复性好、精度高、测试结果真实、自动化程度高等诸多优点。其用国际先进的红蓝双光源设计,红光主光源为进口氦-氖激光器,并有蓝光辅助半导体光源,弥补了常规设计散射光角度的盲区,极大地提高了对亚微米级颗粒及少量大颗粒的分辨力,是金刚石微粉客户优先选择的热门激光粒度仪。
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●  测试范围:0.02-2000μm(湿法),0.1-2000μm(干法)

●  重复性:≤0.5%(标样D50偏差)
●  准确性:≤±0.6%(标样D50偏差)
●  测量速度:常温测量10秒内完成

▲ 欧美克Topsizer 激光粒度分析仪

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LS-609型激光粒度分析仪是欧美克仪器公司在LS-POP(9)优良测试性能基础上,升级开发的一款智能化、高性能的全自动激光粒度分析仪。LS-609采用进口He-Ne激光器作为光源,激光功率更加稳定,预热时间短。结合其现代化的智能测量控制分析软件和全自动进样测量系统,使得粒度测试流程更加简洁和效率高、测试结果更稳定可靠、粒度检测报告的对比更加直观简单。


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●  测试范围:0.1-1000μm

●  重复性:优于1%(标样D50偏差)

●  对中方式:智能自动对中,对中精度0.5μm

▲ 欧美克LS-609 激光粒度分析仪

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而电阻法计数器对金刚石微粉行业的质量控制与产品升级具有不可替代的重要作用。该技术通过精确检测单个颗粒的体积和数量,能够提供远超传统方法的粒径分布统计精度,尤其适用于亚微米级高端微粉的精确分级与计数分析。本届展会现场,欧美克仪器全新升级的RC-2200电阻法颗粒计数器首次亮相。


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●  测试范围:0.6 - 256μm 

●  重复性误差:≤ 1%(标样D50偏差)

●  测试时间:15秒(典型值)

●  检测通道数:8192个

▲ 欧美克RC-2200 电阻法颗粒计数器

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RC-2200电阻法(库尔特)颗粒计数器采用新一代低延时高频数据采集电路和低噪音芯片,升级了电磁屏蔽设计和体积计量装置,使用进口品牌长寿命管路及控制器件,结合一致性的搅拌装置工装限位,替代气压的液压排堵和排气泡功能,新增的可选30、280μm等小孔管和多功能SOP自动化测试设计,使得RC2200具有更好的数据重现性、更佳的细颗粒粒径和计数测试性能、可胜任更宽泛类别和更高要求的样品测试,同时维护更简便,寿命更长。全面满足磨料、回注水、碳粉及氧化铝等多行业的多样化颗粒粒径和计数的测试需求。


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此外,随着超硬材料向高端化、精密化发展,纳米粒度电位分析仪在超硬材料的高端应用中崭露头角。纳米粒度分析仪能够精准测定微粉的粒径分布及其稳定性,确保产品达到半导体抛光、纳米涂层等高端领域所需的均匀性与一致性;而电位分析则通过表征颗粒表面电荷状态,为优化分散工艺、防止团聚提供科学依据,显著提升浆料制剂的稳定性与加工性能。这两项技术的协同应用,不仅从根本上解决了超细粉体材料易聚集、难分散的技术瓶颈,更推动了金刚石微粉从传统磨料向功能化、纳米化新材料的战略转型,直接决定了产品在高精度应用领域的性能表现与市场竞争力,为行业开拓生物医疗、子封装、复合新材料等高附加值市场奠定了不可或缺的技术基础。


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●  测量范围*:0.3nm - 10μm (取决于样品)

●  测量原理:动态光散射法(DLS)

●  重复性误差:≤ 1% (NIST可追溯胶乳标样)

●  最小样品容积*:20μL

▲ 欧美克NS-90Z Plus纳米粒度电位分析仪

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NS-90Z Plus纳米粒度及电位分析仪是珠海欧美克仪器有限公司在成功引进和吸收马尔文帕纳科 (Malvern Panalytical)纳米颗粒表征技术后,在上一代NS-90Z的基础上进一步优化了光学电子测量技术和分析性能的一款新产品。NS-90Z Plus具有更优越的粒度和电位分析功能,能满足广大纳米材料、制剂开发和生产用户的颗粒粒度和Zeta电位的测试需求。


超硬材料行业作为高端制造与战略性新兴产业的支撑领域,正朝着高性能、功能化和纳米化的方向迅猛发展。在这一进程中,材料表征科学不再仅仅是质量控制的辅助手段,而已成为驱动行业技术创新与产业升级的核心引擎。欧美克始终以材料粒度粒形检测技术,以创新性的粒度粒形检测产品与解决方案,力求为每一位行业客户及合作伙伴带来真正的价值!





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